Direkt zum Inhalt

Lexikon der Optik: Dispersionsgebiet

Dispersionsgebiet, Spektralbereich Δλ, welcher gleichzeitig mit einem Spektralapparat untersucht werden kann. Bei den Prismenspektralapparaten ist das D. nur von dem verwendeten Prismen- und Linsenmaterial abhängig und im kurzwelligen und langwelligen Spektralbereich durch die Absorption des verwendeten Materials begrenzt (optische Glasarten, optische Kristalle). Bei den Interferenzspektralapparaten, wie z.B. dem Beugungsgitter, dem Stufen- oder Echellegitter (Echellespektrograph), dem Fabry-Perot-Etalon (Etalon) und der Lummer-Gehrcke-Platte, überlagern sich die verschiedenen Interferenzordnungen so, daß bei photographischer oder photoelektrischer Registrierung nicht zu entscheiden ist, zu welcher Ordnung die zerlegte Strahlung gehört und welche Wellenlänge sie hat. Oft kann man mit Filtern erreichen, daß nur eine Ordnung im untersuchten Spektralbereich auftritt. Bei den Interferenzspektralapparaten bezeichnet man als nutzbares D. oder nutzbaren bzw. freien Spektralbereich dasjenige Gebiet, in dem keine Überlagerungen verschiedener Ordnungen auftreten. Eine Überlagerung zwischen der m-ten Ordnung (bei der Wellenlänge λ+Δλ) und der (m+1)-ten Ordnung (bei der Wellenlänge λ) findet dann statt, wenn gilt (λ+Δλ)m=λ(m+1), woraus für das nutzbare D. Δλ=λ/m folgt. Während das Auflösungsvermögen eines Interferenzspektralapparates nur von dem maximalen Gangunterschied der Randstrahlen (Ordnung mal Anzahl der interferierenden Strahlen, Fabry-Perot-Interferometer) abhängt und um so größer ist, je höher die Ordnung ist, wird also das nutzbare D. mit wachsender Ordnung kleiner. Daher ist bei Interferenzspektralapparaten meist eine Vorzerlegung notwendig. Eine Möglichkeit, das D. eines Interferenzspektralapparates auf das eines Prismenspektralapparates auszudehnen, besteht in der Verwendung gekreuzter Spektren in einem Echellespektrometer, bei dem senkrecht zur Dispersion des Echellegitters eine Trennung der Beugungsordnungen durch ein Prisma erfolgt.

Lesermeinung

Wenn Sie inhaltliche Anmerkungen zu diesem Artikel haben, können Sie die Redaktion per E-Mail informieren. Wir lesen Ihre Zuschrift, bitten jedoch um Verständnis, dass wir nicht jede beantworten können.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


Partnerinhalte