Lexikon der Optik: Komparatorprinzip
Komparatorprinzip, von E. Abbe 1890 aufgestelltes längenmeßtechnisches Prinzip, das folgendes besagt: Präzisionslängenmeßgeräte, insbesondere Komparatoren, sollen so aufgebaut sein, daß Normal und Prüfling, z.B. Normalmaßstab und zu messender Strichmaßstab fluchtend hintereinander und nicht parallel nebeneinander angeordnet sind (1. meßtechnischer Grundsatz). Die nicht fluchtende Anordnung von Normal und zu messender Strecke hat zwangsläufig Meßfehler zur Folge. Bei allen technischen Feinmeßgeräten treten während der Relativbewegung zwischen Prüfling und Normal Kipp- und Drehfehler infolge von Unebenheiten und unvermeidbarem Spiel in den Führungsbahnen auf. Beim Longitudinalkomparator (Komparator) mit nebeneinanderliegenden Meßstäben können durch Kippen oder Verdrehen des Aufnahmetisches oder des Mikroskopträgers nicht erkennbare Meßfehler auftreten. Diese sind abhängig von der Entfernung der Teilungsebenen der beiden Maßstäbe und von der Größe des Kippwinkels. Sie werden entsprechend ihrer linearen Abhängigkeit vom Kippwinkel als Meßfehler 1. Ordnung bezeichnet. Die Kippung eines Betrachtungs- oder Meßmikroskops beim Verschieben auf seiner Führungsbahn hat ebenfalls einen Meßfehler 1. Ordnung bezüglich des Kippwinkels zur Folge.
Bei Meßgeräten für technische Feinmessungen sollen daher der Aufnahmetisch mit dem Prüfling und nicht das Meßmikroskop verschoben werden (2. meßtechnischer Grundsatz). Bei einem Longitudinalkomparator mit hintereinander angeordneten Maßstäben treten beim Verschieben des Aufnahmetisches oder des Mikroskopträgers durch Kippung oder Verdrehung um einen Winkel α Meßfehler auf, die von 2. Ordnung bezüglich α und damit oft vernachlässigbar sind.
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