Lexikon der Optik: Streuplatteninterferometer
Streuplatteninterferometer, Zweistrahlinterferometer, bei denen spezielle Streuplatten als Strahlteiler und -vereiniger verwendet werden. Eine moderne Version arbeitet mit einer Streuplatte, die beide Funktionen übernimmt. Die von einer quasimonochromatischen Lichtquelle beleuchtete Lochblende P1 wird mit einem Objektiv nach P0, d.h. auf den Scheitel des konkaven Prüflings abgebildet, wobei es eine Streuplatte passieren muß (Abb.). Letztere besitzt ein Symmetriezentrum O, und sie ist so angeordnet, daß dieses mit dem Krümmungsmittelpunkte der Prüflingsoberfläche (jedenfalls näherungsweise) zusammenfällt. Das vom Prüfling reflektierte Licht geht dann ein zweites Mal durch die Streuplatte sowie durch ein zweites Objektiv hindurch, bevor es in die Beobachtungsebene gelangt. Ein Teil des Lichtes wird beim ersten Durchgange durch die Streuplatte gestreut (Lichtweg P1P2PQ), ein anderer Teil beim zweiten Durchgange (Lichtweg P1P0P
Q). Diese beiden Bündel interferieren in der Beobachtungsebene miteinander, wobei das in P0 reflektierte als Referenzbündel fungiert. Auf diese Weise wird jeder Punkt P auf der Prüflingsoberfläche interferometrisch mit dem Referenzpunkte P0 verglichen. Man spricht daher von einem Punktreferenzverfahren.
Die Streuplatte wird so hergestellt, daß man ein Speckle-Muster (Speckle) in Doppelbelichtungstechnik erzeugt. Nach einer ersten Exposition wird die Photoplatte um 180° um die durch O gehende Plattennormale gedreht und die Zweitexposition mit der gleichen Speckle-Verteilung vorgenommen. Nach Entwicklung und Bleichen hat man eine Streuplatte mit den gewünschten Eigenschaften.
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Streuplatteninterferometer: Strahlengang.
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