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Lexikon der Optik: Winkelmeßgeräte

Winkelmeßgeräte, Feinmeßgeräte auf mechanisch-optischer Grundlage für die Ermittlung von Winkelwerten in der industriellen Feinmeßtechnik an Prüflingen aller Art.

W. arbeiten mit mechanischer Antastung, d.h. durch Herstellung eines Berührungskontaktes zwischen Prüfling und Meßgerät. Die Ablesung erfolgt vorwiegend visuell mit Hilfe eines Mikroskops.

Der optische Teilkopf ist ein Winkelmeßgerät, das bei Herstellung und Prüfung von verzahnten oder im Winkelmaß unterteilten Gegenständen verwendet wird. Der mikroskopisch zu betrachtende Glasteilkreis mit Gradteilung befindet sich geschützt im Inneren des Gerätes. Das Mikroskopokular ist mit einem die Gradintervalle optisch unterteilenden Interpolator versehen (Okularmikrometer) und ermöglicht eine Ablesegenauigkeit von etwa 5″.

Vorteilhaft lassen sich auch inkrementale Meßverfahren für die Winkelmessung nutzen.

Der optische Rundtisch (auch optischer Kreisteiltisch genannt) wird für Teilarbeiten in einer waagerechten Ebene verwendet und ist für die Aufnahme auch schwerer Körper geeignet. Er ist mit einer Winkeleinstell- und Ableseeinrichtung versehen, die aus einem mit der Rundtischachse fluchtenden Glasteilkreis besteht, dessen Stellung mit einem Mikroskop abgelesen oder inkrementell automatisch angetastet und digital angezeigt wird. Die Meßgenauigkeit hängt im wesentlichen vom verwendeten Winkelmeßsystem ab und kann bei luftgelagerten Rundtischen und hochauflösenden optischen Winkelmeßsystemen 0,03″ bis 1″ betragen. Bei visueller Ablesung einer Okularstrichplatte werden Genauigkeiten bis zu 0,5' erreicht.

Die Winkellibelle mit Mikroskop dient zum Messen und Einstellen von Neigungen und Winkeln an ebenen und zylindrischen Körperflächen in bezug auf die Erdachse. Die Meßstellung wird angezeigt durch eine Röhrenlibelle, die im allgemeinen eine Empfindlichkeit von 30″ Skalenwert/2 mm Blasenweg besitzt und über einen verstellbaren Spiegel beobachtet wird (Libelle).

Die Koinzidenzlibelle ist ein optisches Winkelmeßgerät für Neigungsmessungen und Ebenheitsprüfungen an ebenen und zylindrischen Flächen. Die beiden Enden einer eingebauten Röhrenlibelle werden durch ein Prismensystem halbiert nebeneinander abgebildet. Die Koinzidenz der beiden Blasenenden, die sich bei Verstellung des Feintriebes gegenläufig bewegen, wird mit einer Lupe beobachtet, womit eine Ablesegenauigkeit von 2″ Neigungsänderung ermöglicht wird. Die Auflagefläche der Koinzidenzlibelle besteht aus einem ebenen Meßflächenanteil und einer prismatischen Nut. Elektronisch arbeitende Libellen (Klinometer, Tiltmeter) gestatten Auflösungen unter 0,1″.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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