Direkt zum Inhalt

Sehen heißt wissen.

Das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor.
Selbstverlag (Sonnenbühl 13, 70597 Stuttgart) 1998. 182 Seiten, DM 35,–.

Die Technik der Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist nicht neu; der Autor erhebt auch gar nicht den Anspruch, neue Erkenntnisse mitzuteilen. Er hat 15 Jahre lang das Gerät für die schlichte Werkstoffprüfung an elektronischen Bauteilen verwendet: Was passiert, wenn ein Mikrochip großer Hitze, elektrischer Hochspannung oder einer ungünstigen Atmosphäre ausgesetzt wird? Die Schadensbilder interessieren in den Einzelheiten nur den Fachmann, aber sie sind von einem eigentümlichen ästhetischen Reiz: Man schaut in eine fremdartige mikroskopische Welt. In der Vergrößerung erscheint es stellenweise so, als wären brutale Kräfte am Werk gewesen.


Aus: Spektrum der Wissenschaft 5 / 1999, Seite 152
© Spektrum der Wissenschaft Verlagsgesellschaft mbH

Lesermeinung

Beitrag schreiben

Wir freuen uns über Ihre Beiträge zu unseren Artikeln und wünschen Ihnen viel Spaß beim Gedankenaustausch auf unseren Seiten! Bitte beachten Sie dabei unsere Kommentarrichtlinien.

Tragen Sie bitte nur Relevantes zum Thema des jeweiligen Artikels vor, und wahren Sie einen respektvollen Umgangston. Die Redaktion behält sich vor, Leserzuschriften nicht zu veröffentlichen und Ihre Kommentare redaktionell zu bearbeiten. Die Leserzuschriften können daher leider nicht immer sofort veröffentlicht werden. Bitte geben Sie einen Namen an und Ihren Zuschriften stets eine aussagekräftige Überschrift, damit bei Onlinediskussionen andere Teilnehmer sich leichter auf Ihre Beiträge beziehen können. Ausgewählte Lesermeinungen können ohne separate Rücksprache auch in unseren gedruckten und digitalen Magazinen veröffentlicht werden. Vielen Dank!