Sehen heißt wissen.
Das Rasterelektronenmikroskop
im Fehleranalyselabor.
Selbstverlag (Sonnenbühl 13, 70597 Stuttgart) 1998. 182 Seiten, DM 35,–.
Selbstverlag (Sonnenbühl 13, 70597 Stuttgart) 1998. 182 Seiten, DM 35,–.
Die Technik der Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist nicht neu; der Autor erhebt auch gar nicht den Anspruch, neue Erkenntnisse mitzuteilen. Er hat 15 Jahre lang das Gerät für die schlichte Werkstoffprüfung an elektronischen Bauteilen verwendet: Was passiert, wenn ein Mikrochip großer Hitze, elektrischer Hochspannung oder einer ungünstigen Atmosphäre ausgesetzt wird? Die Schadensbilder interessieren in den Einzelheiten nur den Fachmann, aber sie sind von einem eigentümlichen ästhetischen Reiz: Man schaut in eine fremdartige mikroskopische Welt. In der Vergrößerung erscheint es stellenweise so, als wären brutale Kräfte am Werk gewesen.
Aus: Spektrum der Wissenschaft 5 / 1999, Seite 152
© Spektrum der Wissenschaft Verlagsgesellschaft mbH
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