Wissenschaftler der Bell Labs, dem NEC Research Institute und dem Argonne National Laboratory haben ein neues Bild gebendes Verfahren entwickelt, um antiferromagnetische Eigenschaften zu charakterisieren. Mit der Hilfe eines Röntgenmikroskops gelang den Forschern so unter anderem die Untersuchung der Domänenstruktur von Chromkristallen in Abhängigkeit von der Temperatur. Nach Aussage der Wissenschaftler können so die Struktur-Eigenschaft-Beziehungen von antiferromagnetischen Materialien besser untersucht werden. Damit könnten zukünftig völlig neue Materialien zur Herstellung magnetischer Aufzeichnungs- und Speichermedien entwickelt werden.