Entgegen bisheriger Annahmen fand nun ein Forscherteam aus den USA und Japan bei rastertunnelmikroskopischen Untersuchungen heraus, dass supraleitende, keramische Kupferoxidverbindung offenbar einen elektronisch inhomogenen Charakter aufweisen, also die Dichte der Ladungsträger im Material stark variiert. Bislang war man davon ausgegangen, dass die freien Ladungen in derartigen Hochtemperatur-Supraleitern gleichmäßig verteilt sind. Kupferoxid ist ein Isolator, erst durch weitere Sauerstoffatome die durch Dotieren eingebracht werden, erhält das Material positive Ladungsträger. Die Erkenntnis ist insofern bedeutsam, da die Inhomogenität eventuell auch für die hohe Übergangstemperatur dieser Supraleiter verantwortlich ist.