Direkt zum Inhalt

Lexikon der Optik: technische Mikroskope

technische Mikroskope. Hierbei handelt es sich um Spezialmikroskope, die in Verbindung mit optischen Feinmeßgeräten und zum mikroskopischen Messen benutzt werden. Sie können folgendermaßen untergliedert werden:

1. Betrachtungsmikroskope für die Meßtechnik bestehen aus Mikroskopen mit einfacher optischer Ausrüstung, die von einem robusten Ständer getragen werden, und weisen Grob- und Feineinstellung auf. Bei ihnen kommt es auf die Ausnutzung der reellen optischen Zwischenabbildung für meßtechnische Zwecke und nicht auf die Vergrößerungsmöglichkeit an. Der Prüfling wird im Auflicht oder Durchlicht betrachtet.

2. Zielmikroskope sind Betrachtungsmikroskope, die in der Ebene des reellen Bildes des Gegenstandes, das innerhalb des Mikroskoptubus entworfen wird, eine Marke, z.B. ein Strichkreuz, aufweisen. Diese Marke befindet sich im allgemeinen auf einer mit dem Okular verbundenen Strichplatte.

3. Zentriermikroskope sind Zielmikroskope mit einem eingesetzten Strichkreuz, das zur Ausrichtung angerissener Werkstücke auf die Drehachse von Werkzeugmaschinen und Bohrwerken dient.

4. Meßmikroskope sind Mikroskope zur unmittelbaren Messung von Längen und Winkeln im optischen Bilde mit Hilfe von Meßokularen. Für Längenmessungen ist das einfachste Meßokular das Okularmikrometer, dessen Strichplatte im allgemeinen 100 Teilstriche mit einem Strichabstand von 0,1 mm aufweist. Für genauere Längenmessungen verwendet man ein Okularschraubenmikrometer, dessen Strichplatte meßbar zu verschieben ist. Okularschraubenmikrometer haben im allgemeinen eine etwa 15fache Vergrößerung.

Eine besondere Form der Meßmikroskope sind die Feinmeßmikroskope, bei denen das besonders ausgebildete Okularschraubenmikrometer, die Tubuslänge und das verwendete Objektiv so aufeinander abgestimmt sind, daß der Skalenwert 0,01 mm beträgt. Im Okularkopf des Feinmeßmikroskopes befinden sich zwei übereinandergelagerte Glasskalen, die gemeinsam bewegt und außerdem über eine Feinmeßschraube mit Trommelteilung meßbar gegeneinander verschoben werden können. Das Feinmeßmikroskop eignet sich zum Messen von Teilstrichabständen, kleinen Bohrungen u.a., es kann auch zum Auswerten von Brinell- und Vickers-Härteeindrücken verwendet werden. Die Vergrößerung ist im allgemeinen 25- oder 50fach bei einem Betrachtungsausschnitt von etwa 7 bzw. 3,5 mm Durchmesser.

Zur optischen Messung von Winkeln dienen die Winkelmeßmikroskope. In ihrem Okular befindet sich eine drehbar gelagerte Strichkreuzplatte mit einer Winkelteilung (z.B. 0,5°). Die Strichplatte kann mit einer zusätzlichen Längenteilung ausgeführt werden.

5. Drahtmeßmikroskope sind Meßmikroskope, die zur meßkraftfreien Bestimmung des Durchmessers insbesondere von dünnen Drähten dienen.

6. Einbaumikroskope, auch als Maschinenmikroskope bezeichnet, werden in Bearbeitungsmaschinen eingebaut und finden dort entweder als Betrachtungsmikroskope zur Beobachtung von Arbeitsvorgängen oder als Vergleichsmikroskope für die Prüfung von Gewindeprofilen Anwendung.

7. Ablesemikroskope sind Zielmikroskope, bei denen die Indexmarke im reellen Zwischenbild des Mikroskops abgebildet wird. Sie sind Bestandteile technischer Mikroskope und dienen z.B. bei Feinmeßmikroskopen und Winkelmeßmikroskopen dazu, den Bruchteil eines Teilungsintervalls zweier in der Maßstabsebene verschobener Teilstriche unmittelbar zu bestimmen.

Schreiben Sie uns!

Wenn Sie inhaltliche Anmerkungen zu diesem Artikel haben, können Sie die Redaktion per E-Mail informieren. Wir lesen Ihre Zuschrift, bitten jedoch um Verständnis, dass wir nicht jede beantworten können.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


Partnerinhalte